真空衰減法無(wú)損檢測微泄露密封性測試儀

DRK 真空衰減法無(wú)損檢測微泄露密封性測試儀，符合FASTM F2338-09標準和USP40-1207法規要求，基于雙傳感器技術(shù)，雙循環(huán)系統的真空衰減原理將微泄漏密封測試儀主機連接到一個(gè)特別設計用來(lái)容納需要被測試包裝物的測試腔內，對測試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內氣體通過(guò)漏孔擴散至測試腔內，雙傳感器技術(shù)檢測時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標準值進(jìn)行比較判斷試樣是否泄漏。

DRK 真空衰減法無(wú)損檢測微泄露密封性測試儀，產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)：

1.測試便捷快速

2.可溯源

3.可重復

4.無(wú)損檢測

5.人為因素小

6.靈敏度高

7.定量測試

8.更易檢測更小和泄露點(diǎn)曲折漏孔

9.儀器成本高，精度高

10.zui有效、最直觀(guān)、高效的檢漏法，樣品經(jīng)過(guò)檢驗后并不會(huì )受到污染，可正常使用。

DRK 真空衰減法微泄露密封性測試儀，產(chǎn)品參數：

項目 參數

真空度 0--100kPa

檢測靈敏度 1-3um

測試時(shí)間 30s

設備操作 自帶HM1

內部壓力 常壓

測試系統 雙傳感器技術(shù)

真空來(lái)源 外接真空泵

測試腔 根據樣品定做

適用產(chǎn)品 西林瓶、安瓿瓶、預灌封(及其他合適樣品)

檢測原理 真空衰減法/無(wú)損檢測

主機尺寸 550mmx330mm320mm(長(cháng)寬高)

重量 20 Kg

環(huán)境溫度 20℃-30℃

注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準。